Weimi high quality dual field image measuring instrument

Dual view integrated automatic image measuring instrument to realize accurate workpiece measurement

Instrument Features

广东微米测量十多年深入客户一线,切实了解客户、各行业真实需求,专业研发高品质双视野影像仪高精度测量仪器;设备结构美观大方,操作简便,结合本公司的测量软件,可以对工件尺寸、形状和位置公差进行精密测量。

微米双视野影像仪适用范围广泛,如机械制造、汽车零配件、3C手机配件、PCB板、精密五金制造、模具等行业,完成零件检测、外形测量、过程控制等任务。

 

传统影像测量仪的单视野

■ 工作距离(mm):90;物方视场(mm):1.6-10.6;图像放大倍率(X):30-225倍;光学镜头倍率(X):0.7-4.5倍

■ 线性精度(um): X/Y精度≤3+L/200,Z精度≤5+L/200。(“L”指被测物体长度,单位mm)此为光学影像的精度。

■ 备注:探针Z轴的测量精度可以控制在3+L/200μm,激光Z轴的测量精度可以控制在2+L/200μm。

 

大视野

■ 光学镜头倍率(X):0.314倍;图像放大倍率(X):4.88倍;

■ 视野范围:45*35mm;相机像素:1200W(Sony芯片);

■ 不移动单视野测量精度≤2μm(测量标准件)。移动单视野测量精度≤3+L/200um(测量标准件)。

■ 不移动单视野测量精度≤5μm(测量实际产品)。移动单视野测量精度≤5+L/200um(测量实际产品)。

■ 可以实现单视野单独测量、移动工作台XY平台测量。

Model Parameters

型号名称

PQ542-S(双镜头)

工作行程

400mm*400mm*200mm(Z)

尺寸规格

1750mm*1315mm*1075mm

整机重量

约80Kg

整机功率

约2000 W


Copyright ©  2017  WEIMI  All rights reserved  粤ICP备10072015号-3